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半導体テスタとは、IC（集積回路）を検査、試験する装置で半導体製造装置の1種である。ATE(Automated Test Equipment)や半導体検査装置とも呼ばれる。半導体製造工程において後工程の検査で使用される。半導体テスタの種類は、メモリテスタ、アナログICテスタ、ロジックICテスタ、SoCテスタなどがある。また、このカテゴリでは、有機ELやLCDなどの検査装置も掲載している。
高電圧、大電流を扱うパワー半導体のテストに特化し、特別な安全対策などが施されている。
システム内のさまざまな機能を持つカード／モジュールをテストの仕様に応じて組み合わせることで、ロジックやアナログ、RF、DC、イメージャーなど、半導体のあらゆる集積回路をテストが可能
ミックスドシグナルLSIテストシステム、リニアICテストシステム、LSI テストシステム
動特性検査装置（ACテスター）、静特性検査装置（DCテスター）、過渡 熱抵抗（ΔmV）測定器、パワーサイクル（PCT、TFT）試験装置
半導体デバイス・アナライザ、パラメータ・アナライザ
プローバ一体型テストシステム(DC測定+アバランシェ耐量試験)、パワーデバイス用DCテスタ、IPD/IPMテストシステム、熱抵抗テスタ、L負荷テスタ（アバランシェ耐量）、ダイナミックテストシステム
動特性試験器、過渡熱抵抗テストシステム、静特性テストシステム、IPM/IGBTテストシステム、ダイオードテストシステム
ケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザ、ケースレーPCTパラメトリック・カーブ・トレーサ、ケースレー・パラメトリック・テスト・システム、ケースレー700シリーズ半導体スイッチング・システム、ケースレー自動特性評価スイート（ACS）ソフトウェア
SoCテストシステム、VLSI試験システム、ピックアップ&プレースハンドラ
IC（ロジック）機能テスト、ボード上のデバイステスト、アナログICテスト、デジタルオシロ、テスト用電源などのモジュール群
偽造IC判別装置（ICのピンの電気特性を良品のデータと比較し、偽造品や不良品を判別）
【ご注意】 ここで紹介する製品・サービスは企業間取引（B to B）の対象です。 各企業とも一般個人向けには対応しておりませんのでご承知ください。
| 順位 | 企業名 | クリック割合 |
|---|---|---|
| 1 | アドバンテスト | 29.5% |
| 2 | 日本マイクロニクス | 9.5% |
| 2 | シバソク | 9.5% |
| 4 | イノテック | 7.4% |
| 4 | テラダイン | 7.4% |
| 6 | コペル電子 | 5.3% |
| 7 | ダイトロン | 4.2% |
| 8 | キーサイト・テクノロジー | 3.2% |
| 8 | テセック | 3.2% |
| 8 | スパンドニクス | 3.2% |
| 8 | ペリテック | 3.2% |
※クリック割合(%)＝クリック数／全企業の総クリック数 このランキングは選択の参考にするもので、製品の優劣を示すものではありません。