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高分解能FEB測長装置、設計データ応用計測システム、欠陥レビューSEM、ウェーハ表面検査装置、暗視野式ウェーハ欠陥検査装置
絶縁抵抗測定・リーク電流測定、導体抵抗測定、DC電流印加試験、電気特性評価システム
パターン付ウェーハ外観検査装置
ウェーハ用平坦度測定装置、円盤用表面形状測定装置
"Klarity(R)" 歩留まり解析ソフト/システム
ウェーハ形状／特性測定装置、欠陥／異物検査装置、歩留まり解析ソフト／システム
視野角測定において、液晶パネルの位置制御＋液晶表示画像制御＋分光輝度計データ収集を自動測定
専用ソフトによる簡単な設定で高精度な位置決めと非接触レーザ変位センサ2台による、ウェハの表面・裏面の変位測定
温度可変反り検査装置、インラインバンプ検査装置、多面取り基板バンプ検査装置、ウェーハマイクロバンプ検査装置、FC-CSP基板バンプ検査装置
汎用三次元検査装置、ICパッケージ基板バンプ検査装置、ウェーハバンプ検査装置
メモリーICバーインチャンバー、パワーデバイス耐電圧試験装置、温湿度バイアス印加（THB）試験装置、ウエハーベークオーブン、HASTシステム、超低温液循環装置
LEDチップスポット測定システム
加熱形状変化を３D動画変化で計測観察
非破壊光学測定技術により、半導体チップ (ウェーハ) の超精密測定と分析が可能
ハンダボールリペア装置、ウエハー外観検査装置、ウエハーレビュー装置、表裏パターンずれ検査装置、マイクロLED検査＆リペア装置、狭ベゼル対応レーザーボンディング装置、ダイレクトレーザーソルダリング装置
シール剤断線検査装置、パネル貼り合せズレ検査装置、パーテイクル検査装置、スペーサー検査装置、Wave Line 検査装置
ライフタイム測定装置、平坦度・形状測定装置、魔鏡システム、エッジ・ノッチ形状測定装置、エッジロールオフ測定装置、ソーティングシステム・移載機、貼り合せ評価・エッジ欠陥検査装置、結晶性評価装置(FPD）
ＳｉＣ／ＧａＮ関連 ウェハ表面検査装置、ウェーハ表面検査装置 表面パーティクルスキャナ
【ご注意】
ここで紹介する製品・サービスは企業間取引（B to B）の対象です。 各企業とも一般個人向けには対応しておりませんのでご承知ください。
| 順位 | 企業名 | クリック割合 |
|---|---|---|
| 1 | ヒューテック | 9.6% |
| 2 | SCREENセミコンダクターソリューションズ | 7.2% |
| 2 | コベルコ科研 | 7.2% |
| 4 | KLA | 6.0% |
| 5 | 日立ハイテクサイエンス | 4.8% |
| 5 | 日立ハイテク | 4.8% |
| 5 | クォークテクノロジー | 4.8% |
| 5 | 清和光学製作所 | 4.8% |
| 9 | エスペック | 3.6% |
| 9 | アドバンテスト | 3.6% |
※クリック割合(%)＝クリック数／全企業の総クリック数
このランキングは選択の参考にするもので、製品の優劣を示すものではありません。