UFSの寿命試験はデバイス選定時に必須の要件となり、その試験に数か月を要するため開発サイクルを短縮できません。弊社では、超高速デバイスプログラマ使用した最新世代各社UFSの寿命試験(PV繰返し試験)用システムと定額で行うサービスを提供いたします。 ■対象デバイス：各社UFS。32GB/64GB。 ■同時試験デバイス数：4個 ■試験内容、回数：フルサイズランダムデータを繰返し書込み/ベリファイ実施。回数は1000回。試験後、デバイス毎にエラー発生回数と発生時間のレポート作成。　※ご不明点はお気軽にお問合わせ下さい。

LumenX/TurboBoost型デスクトッププログラマおよび自動機搭載LumenXプログラエンジンでは従来エンジン比10倍の高速書込みを実現し大容量Flashの生産能力を大幅に向上します。 ■各社UFS、3D-eMMC対応中。PSA対応中 ■各社セキュアマイコン書込み対応中 ■テーピングデバイス対応中 ※詳しくはWebサイトにてご確認、お問合わせお願いします。