日本最大の電子・産業部品ポータルサイト indexPro
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適正な倍率で拡大した被検物をテンプレートと比較する、測定を目的とした顕微鏡
多彩な立体部品の寸法・形状をより高速・高精度に自動測定
被検物を正確な倍率で投影し、形状・寸法を観察・測定
マイクロフォーカスX線源により、微小な内部欠陥を非破壊で可視化
自動非接触式計測システム
対象物の微小な角度差、振れなどを測定し、真直度、平行度、たわみなどの検査のための光学的測定機
偏光板を使用し、標本の偏光特性を明暗のコントラストや色の変化として観察する顕微鏡
マクロからミクロまでカバーする広い視野
APDISは前処理を必要とせず、離れた場所からでも精密な非接触計測が可能。様々なアプリケーションにおいて、広範囲な自動計測により、工数短縮・人為誤差の排除を実現。