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IC外観検査装置、ICリード測定装置、ウエハーレベルパッケージ外観検査装置
単結晶・多結晶ウエハー(固定砥粒加工品・遊離砥粒加工品)のTOTAL外観検査が可能な検査装置
セラミック基板に発生するクラックや汚れ、オーバーエッチング、パターンショート等の欠陥検査、MPU基板、CPU基板、FCBGA基板等の各種パッケージ基板の最終外観検査、イメージセンサの出荷前自動外観検査